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光模块共晶机

高精度共晶贴片工艺 支持400G、800G、1.6T高速光模块 双共晶台并行架构,集成八个中转台,依次贴装8种物料,物料兼容性强,生产效率高。 三绑头分工协同,采用上料、共晶、下料三绑头独立分工设计,并行作业,最大化提升设备UPH。 全自动上下料系统,支持轨道式自动上下料,物料放置有轨道载具、Wafer或Gel Pak等料盒多种选择,适应多样化产线布局。 自动化集成方案,轨道端集成螺丝锁付装置,可将COC直接放至鱼骨夹具,自动锁紧螺丝后推入料仓,简化工艺流程。 支持手动输入、示教设定及工艺参数表导入等多种编程方式 可根据封装图纸和样品快速完成贴装程序配置
应用领域

COC

COS

Flip Chip

光模块固晶机

光模块共晶机
支持400G、800G、1.6T高速光模块 并行作业模式,蘸胶与贴片双工位独立运行,提升运行效率。 兼容性强大,支持6英寸、8英寸蓝膜切换,适应多品种、多物料并行贴装。 精密力控系统,支持10~2000g宽幅压力调节,满足多种贴片工艺的严苛力控需求。 智能软件平台,界面人性化,功能丰富,操作便捷。 支持一键切换程序,视觉对位框可拖拽调整,与MES系统无缝数据互联,为产线数字化管理提供有力支撑。
应用领域

蘸胶与点胶双重工艺

支持COB及BOX封装应用

支持400G、800G、1.6T高速光模块

光模块AOI-A720

光模块固晶机
TIA/PD/PIC/COC-裂纹/破损/划伤/压伤/银胶/位置度等 线弧异常/塌线/断线/虚焊/金线损伤 精度:支持最小 15um 直径金线检测 崩边/划痕/脏污/缺件/错件/偏移/旋转
应用领域

COB 制程

DB&WB后全检测 

芯片检测

金线检测

SMD元器件检测

光芯片多面检AOI-A760

光模块AOI-A720
芯片检测 光芯片正面、背面、前/后端面的各种外观缺陷,如划伤、刮伤、脏污、压痕、缺损、暗点、异常、裂纹、崩边等。
应用领域

光芯片

多面检AOI-A760

点胶贴盖设备

光芯片多面检AOI-A760
专业的点胶控制软件,保证点胶的一致性。 高刚性一体式焊接机架,经过严谨力学分析。 可选配激光高度检测系统,工件变形后可自动校准Z轴高度。 设备拥有全自动上下料传输系统,同时满足点胶、画胶贴装工艺。 设备可灵活应用于Cover粘接、导热涂覆等封装工艺,可灵活组线满足客户实际产线工艺需求。

光模块钨铜贴装设备

点胶贴盖设备
高精度多轴运动平台,四工位同时作业,生产效率高。 多点测高拟合与控制算法,实现多功能画胶/贴装/补胶。 自动上下料系统 独立控制,支持不停机补料。 配套柔性供料系统,自动识别和抓取散装物料 支持多尺寸料条治具与钨铜片,兼容性强。 可快速换型,支持一键自动校准。 配置钨铜片预热系统,配置热贴ZR,快换吸嘴。 支持SECS-GEM。

光模块检查&测试自动化生产线

光模块钨铜贴装设备
上料→ 端面清洁检测 端面清洁检测 端面清洁检测 端面清洁检测 插自环头 DC测试 下料

光模块自动组装生产线

光模块检查&测试自动化生产线
1.下壳上料 2.下壳点胶 3.PCBA上料组装 4.PcBA点胶 5.上壳上料 6.上壳点胶 7.上壳组装 8.贴标 9.锁螺丝 10.成品检测 11.成品下料
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